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昆山友碩新材料有限公司
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借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的蔡司工業CT技術，只需一次掃描，任何人都能有效完成復雜的測量和檢查任務。測量并檢測接觸式或光學測量系統無法檢測到的隱藏缺陷和內部結構。另一個巧妙之處在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于體積小，CT掃描系統很容易便能放置于您的測量實驗室之中，可以一次性完成內部測量和檢查。
借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的蔡司工業CT技術，只需一次掃描，任何人都能有效完成復雜的測量和檢查任務。測量并檢測接觸式或光學測量系統無法檢測到的隱藏缺陷和內部結構。另一個巧妙之處在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于體積小，CT掃描系統很容易便能放置于您的測量實驗室之中，可以一次性完成內部測量和檢查。
一個CT系統，兼具多種優勢
ZEISS METROTOM 1使用工業計算機斷層掃描技術，是升級您的質量檢查產品組合的理想設備。CT系統擁有許多優勢：
操作簡便
ZEISS METROTOM 1是以用戶為基礎建造的。安裝過程簡單，只需進行少量培訓就能使用CT。只需輕輕一點，即可開始掃描流程!
精準的測量
小而*：您可以使用ZEISS Metrotom 1測量并評估完整的零件。這樣，您可以信賴您的測量，進行準確的數模比對、尺寸檢查和壁厚分析。
占地面積小
蔡司METROTOM 1非常緊湊。尺寸為1750 mm(長) x 1820 mm(高) x 870 mm(寬)。這意味著CT系統適合任何測量實驗室——可以讓您在公司內部進行測量和質量保證，而無需外部測量服務。
投資回報快
購置成本低，且得益于合宜的系統維護保養費用，您的設備持有將變得物超所值：ZEISS METROTOM 1的射線管無需維護保養。
X射線源 | 160 kV |
X射線探測器 | 2.5 k |
測量容積 | 165 x 140 mm |
測量規格(MPE SD) | < 5 μm |
尺寸 | 1750 mm（寬） x 1820 mm（高） x 870 mm（厚） |
重量 | 2100 kg |
軟件 | GOM Volume Inspect體積檢測（已包含） |
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