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langer MV-Technik工具E1

Langer EMV-Technik處于EMC領(lǐng)域的研究，開發(fā)和生產(chǎn)的前沿。通過EMC實驗研討會和EMC研討會，我們?yōu)榭蛻籼峁┝巳娴闹R。

我們的干擾發(fā)射和抗干擾性 EMC測量技術(shù)以及IC測試系統(tǒng)主要用于開發(fā)階段，并且在范圍內(nèi)都有需求。

產(chǎn)品展示

PCB抗擾度

測量系統(tǒng)和EMC工具，用于進(jìn)行組件和設(shè)備的抗擾性測試和分析

PCB發(fā)射

在開發(fā)階段用于組件和設(shè)備排放分析的測量系統(tǒng)和EMC工具

測量和校準(zhǔn)站

測量和校準(zhǔn)站用于校準(zhǔn)EMC測量儀器并確定連接器的EMC參數(shù)。

教學(xué)與培訓(xùn)測量技術(shù)

EMC實驗的模型裝配

IC測量技術(shù)

借助IC（集成電路）測試系統(tǒng)，開發(fā)人員可以在特定干擾（傳導(dǎo)和輻射）或其輻射期間測試電路的行為。該IC在運行中經(jīng)過了測試。

E1是一組EMC工具，用于在開發(fā)階段抑制印刷電路板中的EMI。開發(fā)人員可以使用E1集快速識別突發(fā)和ESD干擾的原因。這使開發(fā)人員可以設(shè)計適當(dāng)?shù)拇胧﹣斫鉀Q干擾的原因。它也可以用來測試所采取措施的有效性。E1測試裝置很小，可輕松安裝在開發(fā)人員的桌子上。E1集用戶手冊介紹了EMC機制，并詳細(xì)描述了用于抑制印刷電路板中干擾的基本測量策略。E1集包括一個發(fā)生器，用于產(chǎn)生突發(fā)和ESD干擾。

供貨范圍

1倍SGZ 21，脈沖發(fā)生器
1倍S21，光學(xué)傳感器（10 Mbps）
1倍BS 02，磁場源
1倍BS 04DB，磁場源
1倍BS 05D，磁場源
1倍BS 05DU，磁場源
1倍ES 00，電場源
1倍ES 01，電場源
1倍ES 02，電場源
1倍ES 05D，電場源
1倍ES 08D，電場源
1倍MS 02，磁場探頭
1倍E1 acc，配件
1倍NT FRI EU，電源裝置
1倍E1案例，系統(tǒng)案例
1倍E1 m，E1設(shè)置用戶手冊

Langer EMV-Technik P1 set

Langer EMV-Technik P23 set

Langer EMV-Technik P11t set

Langer EMV-Technik P12t set

Langer EMV-Technik CAN 100 set

Langer EMV-Technik CAN 100 A01 set

LIN 100 set

BD 11

BD 06B

BD 01B

BD 01E

ESA1 set

HFW 21 set

Z23-1 set

Z23-2 set

NNB 21 set

PA 203 SMA套件

PA 303 BNC套件

PA 303 SMA套件

PA 303 N套

PA 306 SMA套

ICS 105

FLS 106 IC

Langer EMV-Technik FLS 106 PCB

Langer EMV-Technik SUH 106

Langer EMV-Technik LF1

Langer EMV-Technik MFA-K 0.1-12 set

Langer EMV-Technik A100-1 set

Langer EMV-Technik XF-R 100-1

迷你突發(fā)場發(fā)生器特別小。它們用于在開發(fā)階段識別和消除電子裝配中的薄弱環(huán)節(jié)。它們會在其產(chǎn)生脈沖串或ESD場。微型脈沖發(fā)生器用手在其被測設(shè)備（例如印刷電路板）上靠近其表面的方向上引導(dǎo)。弱點會響應(yīng)脈沖場，并且會發(fā)生故障。突發(fā)場發(fā)生器可以應(yīng)用于電路板設(shè)計的選定單個部分，以識別潛在的弱點（接地系統(tǒng)中的故障，單個走線或IC引腳）。分開的磁耦合（P11和P12）和電耦合（P21）允許針對相應(yīng)的弱點佳地調(diào)整EMC對策。