射頻綜合測試儀MDR-T8200-P-G

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協議為準

產品型號

品牌

廠商性質生產商

所在地成都市

在線詢價收藏產品查看聯系電話

聯系方式：何坤明查看聯系方式

更新時間：2025-02-28 10:18:18瀏覽次數：38次

聯系我時，請告知來自智慧城市網

產品分類 品牌分類

  智能卡終端

全部產品列表

暫無信息

成都市邁德物聯網技術有限公司

經營模式：生產廠家

商鋪產品：12條

所在地區：四川成都市

聯系人：何坤明（銷售經理）

詢價 給他留言

產品簡介

此款射頻綜合測試儀，用于智能卡、RFID標簽，低頻/高頻諧振頻率檢測，便攜式測試裝置，輕松地實現諧振頻率、Q值、頻寬等檢測

詳細介紹

此款射頻綜合測試儀，用于智能卡、RFID標簽，低頻/高頻諧振頻率檢測，便攜式測試裝置，輕松地實現諧振頻率、Q值、頻寬等檢測。

射頻綜合測試儀檢測功能介紹：
• 智能卡、RFID標簽的諧振頻率等參數檢測：有些智能卡或RFID標簽的諧振頻率會隨著射頻功率的變化而改變。該設備可將射頻功率設置在-30dBm至15dBm范圍
內，并且可在高射頻功率下確定諧振特性，使安裝在卡或RFID標簽上的芯片能夠進行通信
• UID追蹤與管理：使用UID進行可跟蹤管理（檢查日志保存為CSV格式的文本文件）

射頻綜合測試儀應用范圍：
1、智能卡、RFID標簽的諧振頻率檢測
      • 判斷測量結果是否通過
      • 自動生成檢查日志文件
      • 讀取芯片UID內碼
      • 可調射頻功率達到15dBm
      • 芯片綁定前可對射頻天線檢測

2、RFID讀寫器天線的諧振頻率檢測
• 檢查電容器失效的共振頻率

3、無線電源供應的自諧振頻率檢測

射頻綜合測試儀產品參數：
      • 測量方法：磁場耦合測量方法
      • 測量內容：傳輸電壓和反射電壓的振幅
      • 檢測項目：諧振頻率、衰減、Q值、UID讀取
      • 支持協議：ISO14443A (MIFARE Classic, MIFARE Ultralight)；ISO14443 B(僅 PUPI), FEliCa；ISO15693 (Tag -it HF - I Plus/Pro, ICODE SLIX2)
      • 測量點數：100～2048點
      • 檢測時間（高頻頻段測量點數=1000）：諧振頻率檢測：0.5秒；諧振頻率和ID讀取：1秒（檢測時間取決于PC端的設置、機器檢測內容的設置、檢測對象特性等）
      • 檢測結果檢測波形保存功能：檢測日志文件(csv格式文本文件)；UID, PASS / FAIL、諧振頻率、衰減、Q值；波形數據:.csv, .jpg文件
      • 頻率設置范圍：10 KHz～100 MHz
      • 可調的射頻功率(@50Ωload)：－30～+15 dBm
      • DIO 電路類型：隔離I/O
      • 支持系統：PC(OS) Windows7, Windows8.1, Windows10；USB 2.0 或更高
      • 電源：USB 總電源(小號電流500毫安或以下)
      • 裝箱清單：主機、USB接口線、同軸電纜(2根)、高頻標準卡尺寸測試治具及可選的不同尺寸規格的測試天線板、安裝驅動盤
      • 尺寸：125(W)x165(D)x40(H)(不包括測試治具)；
      • 重量：0.8kg