高頻介電常數測試儀
產品簡介
高頻介電常數測試儀是采用當前*的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%的基本精度、ZUI快達5.6ms的測試速度、20Hz-2MHz的頻率范圍及高達1GΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質因數(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規五端配置的儀器向下擴展了十倍。
支持20V交流測試信號和40V直流偏置的高功率測試條件、增強的多參數列表掃描/多參數圖形分析能力將有利于用戶擴展元件全面評價的能力。
是電子元器件設計、檢驗、質量控制和生產測試的強有力工具。它的優良性能和功能為電路的設計和開發以及材料（電子材料和非電子材料）的研究和開發提供了強有力的工具。
以其性能可以實現如IEC和MIL標準的各種測試。
功能特點
高精度
自動平衡電橋與普通LCR電橋相比，它能在更寬的頻率范圍內保證更高的頻率精度！自動平衡電橋與普通電橋在0-10MHz頻率范圍內的精度差別。
高穩定性和高一致性
儀器穩定數據準確
高速度
測試速度快
應用
■ 無源元件:
電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析
■ 半導體元件:
LED驅動集成電路寄生參數測試分析；變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數分析
■ 其它元件:
印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗
評估
■ 介質材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
■ 磁性材料:
鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
■ 半導體材料:
半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性
性能特點
測試頻率：20Hz-2MHz，分辨率：zui高0.1
基本精度：0.05%
測試速度：zui快5.6ms/次
測試原理：自動平衡電橋
高穩定性和一致性：高達15個測試量程配置
高分辨：7英寸，800×600分辨率
多功能參數列表掃描
多參數圖形化掃描功能
變容二極管自動極性功能
10檔分選功能，分選結果聲光報警
存儲空間：內置40組設定文件，USB擴展500組設定文件、數據記錄文件、圖片文件
Ls-RDC同時測試
高兼容性：支持SCPI指令集，兼容KEYSIGHTE4980A、E4980AL、HP4284A等應用
