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北京航天縱橫檢測儀器有限公司


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介電常數介質損耗測定儀

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參   考   價: ￥ 32000

訂  貨  量: ≥1 臺

具體成交價以合同協議為準

產品型號ZJD-A

品       牌

廠商性質生產商

所  在  地北京市

聯系方式：于夢洋查看聯系方式

更新時間：2019-09-06 16:17:19瀏覽次數：770次

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產品簡介

介電常數介質損耗測定儀符合標準：
ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數）的標準試驗方法；
GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質損耗因數的*方法；
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法；
GBT5594.4-2015電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法第4部分:介電常數和介質損耗角正切值的測試方

詳細介紹

機臺型號：ZJD系類 介電常數測試儀

一、介電常數測試儀符合標準：

ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數）的標準試驗方法；

GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質損耗因數的*方法；

GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法；

GBT5594.4-2015電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法第4部分:介電常數和介質損耗角正切值的測試方法；

二、主機及夾具參數：

項目/型號

ZJD-B

ZJD-A

ZJD-C

信號源

DDS數字合成信號

頻率范圍

10KHZ-70MHZ

10KHZ-110MHZ

100KHZ-160MHZ

信號源頻率覆蓋比

7000:1

11000:1

16000:1

采樣精度

11BIT

12BIT

信號源頻率精度

3×10-5 ±1個字,6位有效數

Q值測量范圍

1～1000自動/手動量程

Q值量程分檔

30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔

Q分辨率

4位有效數，分辨率0.1

Q測量工作誤差

＜5%

電感測量范圍

1nH～8.4H,；分辨率0.1

1nH～140mH；分辨率0.1

電感測量誤差

＜3%

電容直接測量范圍

1pF～2.5uF

1pF～25uF

調諧電容誤差分辨率

±1pF或＜1%

主電容調節范圍

30～540pF

17～240pF

諧振點搜索

自動掃描

自身殘余電感扣除功能

有

大電容值直接顯示功能

有

介質損耗系數精度

萬分之一

介電常數精度

千分之一

LCD顯示參數

F,L,C,Q,LT,CT,波段等

準確度

150pF以下±1pF；150pF以上±1%

Q合格預置范圍

5～1000聲光提示

環境溫度

0℃～+40℃

消耗功率

約25W

電源

220V±22V，50Hz±2.5Hz

極片尺寸

38mm/50mm(二選一)

極片間距可調范圍

≥15mm

材料測試厚度

0.1-10mm

夾具插頭間距

25mm±0.01mm

夾具損耗正切值

≤4×10－4 （1MHz）

測微桿分辨率

0.001mm

測試極片

材料測量直徑Φ38mm/50mm，厚度可調 ≥ 15mm

三、配置：

序號

標準配置

單位/數量

1

主機

一臺

2

S916夾具

一套

3

電感組

九只

4

電源線

一根

選配：USB模塊、液體杯（測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm）

       介電常數介質損耗測定儀丨介電常數介質損耗測定儀
1、范圍 
本標準規定了在15Hz?300MHz的頻率范圍內測量電容率、介質損耗因數的方法，并由此計算某些數值，如損耗指數。本標準中所敘述的某些方法，也能用于其他頻率下測量。 
本標準適用于測量液體、易熔材料以及固體材料。測試結果與某些物理條件有關，例如頻率、溫度、濕度，在特殊情況下也與電場強度有關。 
有時在超過1000V的電壓下試驗，則會引起一些與電容率和介質損耗因數無關的效應，對此不予論述。 
　
2、規范性引用文件 
下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據本標準達成協議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注日期的引用文件，其版本適用于本標準。 
IEC60247:1978　液體絕緣材料相對電容率、介質損耗因數和直流電阻率的測量 
　
3、術語和定義 
下列術語和定義適用于本標準。 
3.1 
相對電容率relative permittivity 
ε r 
電容器的電極之間及電極周圍的空間全部充以絕緣材料時，其電容Cx與同樣電極構形的真空電容Co之比； 
……………………………（1） 
式中； 
εr——相對電容率; 
Cx——充有絕緣材料時電容器的電極電容； 
Co——真空中電容器的電極電容。 
在標準大氣壓下，不含二氧化碳的干燥空氣的相對電容率ε r等于1.00053，因此，用這種電極構形在空氣中的電容Cx來代替Co測量相對電容率εr時，也有足夠的精確度。 
4、電氣絕緣材料的性能和用途 
4.1電介質的用途 
電介質一般被用在兩個不同的方面： 
用作電氣回路元件的支撐，并且使元件對地絕緣及元件之間相互絕緣； 
用作電容器介質。 
4.2影響介電性能的因素 
下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強度對介電性能的影響。 
4.2.1頻率 
因為只有少數材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內它們的εr和tanδ幾乎是恒定的，且被用作工程電介質材料，然而一般的電介質材料必須在所使用的頻率下測量其介質損耗因數和電容率。 
電容率和介質損耗因數的變化是由于介質極化和電導而產生，重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導致的界面極化所引起的。 
4.2.2溫度 
損耗指數在一個頻率下可以出現一個值，這個頻率值與電介質材料的溫度有關。介質損耗因數和電容率的溫度系數可以是正的或負的，這取決于在測量溫度下的介質損耗指數值位置。 
4.2.3濕度 
極化的程度隨水分的吸收量或電介質材料表面水膜的形成而增加，其結果使電容率、介質損耗因數和直流電導率增大。因此試驗前和試驗時對環境濕度進行控制是*的。 
注：濕度的顯著影響常常發生在1MHz以下及微波頻率范圍內。  
　
5、試樣和電極 
5.1固體絕緣材料 
5.1.1試樣的幾何形狀 
測定材料的電容率和介質損耗因數，采用板狀試樣，也可采用管狀試樣。 
在測定電容率需要較高精度時，的誤差來自試樣尺寸的誤差，尤其是試樣厚度的誤差，因此厚度應足夠大，以滿足測量所需要的精確度。厚度的選取決定于試樣的制備方法和各點間厚度的變化。對1％的精確度來講，1.5mm的厚度就足夠了，但是對于更高精確度，是采用較厚的試樣，例如6mm?12mm。測量厚度必須使測量點有規則地分布在整個試樣表面上，且厚度均勻度在±1％內。如果材料的密度是已知的，則可用稱量法測定厚度。選取試樣的面積時應能提供滿足精度要求的試樣電容。測量10pF的電容時，使用有良好屏蔽保護的儀器。由于現有儀器的極限分辨能力約1pF，因此試樣應薄些，直徑為10cm或更大些。 
需要測低損耗因數值時，很重要的一點是導線串聯電阻引人的損耗要盡可能地小，即被測電容和該電阻的乘積要盡可能小。同樣，被測電容對總電容的比值要盡可能地大。點表示導線電阻要盡可能低及試樣電容要小,第二點表示接有試樣橋臂的總電容要盡可能小，且試樣電容要大。因此試樣電容取值為20pF，在測量回路中，與試樣并聯的電容不應大于約5pF， 
5.1.2電極系統 
5.1.2.1加到試樣上的電極 
電極可選用5.1.3中任意一種。如果不用保護環，而且試樣上下的兩個電極難以對齊時，其中一個電極應比另一個電*些。已經加有電極的試樣應放置在兩個金屬電極之間，這兩個金屬電極要比試樣上的電極稍小些。對于平板形和圓柱形這兩種不同電極結構的電容計算公式以及邊緣電容近似計算的經驗公式由表1給出。 
對于介質損耗因數的測量，這種類型的電極在高頻下不能滿足要求，除非試樣的表面和金屬板都非常平整。圖1所示的電極系統也要求試樣厚度均勻。. 
5.1.2.2試樣上不加電極 
表面電導率很低的試樣可以不加電極而將試樣插入電極系統中測量，在這個電極系統中，試樣的一側或兩側有一個充滿空氣或液體的間隙。 
平板電極或圓柱形電極結構的電容計算公式由表3給出。 
下面兩種型式的電極裝置特別合適. 
5.1.2.2.1空氣填充測微計電極 
當試樣插入和不插人時，電容都能調節到同一個值，不需進行測量系統的電氣校正就能測定電容率。電極系統中可包括保護電極。 
5.1.2.2.2流體排出法 
在電容率近似等于試樣的電容率，而介質損耗因數可以忽略的一種液體內進行測量，這種測量與試樣厚度測量的精度關系不大。當相繼采用兩種流體時，試樣厚度和電極系統的尺寸可以從計算公式中消去。 
試樣為與試驗池電極直徑相同的圓片，或對測微計電極來說，試樣可以比電極小到足以使邊緣效應忽略不計。在測微計電極中，為了忽略邊緣效應，試樣直徑約比測微計電極直徑小兩倍的試樣厚度。 

 

 

 

北京航天縱橫檢測儀器有限公司 
主營業務：銷售儀器儀表，電氣設備，電子產品，機電設備，環保設備，電線電纜，機械設備，計算機，軟硬件及輔助設備，

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