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高分子材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

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產(chǎn)品型號ZJD-B

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更新時間：2019-07-09 12:11:37瀏覽次數(shù)：451次

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介電常數(shù)測量儀

陶瓷高頻介電常數(shù)測定儀

陶瓷材料介電常數(shù)測試儀

介電常數(shù)介電損耗測試儀

薄膜介質(zhì)損耗測試儀

介質(zhì)損耗檢測儀

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北京航天縱橫檢測儀器有限公司

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聯(lián)系人：于夢洋（經(jīng)理）

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產(chǎn)品簡介

高分子材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀具有抗電磁*力強、頻率范圍寬等特點，主要應用于材料研究與應用開發(fā)。測試電極使用鉑金材料，可減少接觸電阻。根據(jù)不同的測試材料，可以選擇四探針與兩探針兩種測試夾具。

詳細介紹

高分子材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

高低頻介電常數(shù)測試儀

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的*方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法

技術參數(shù)

校準頻率：DC-30MHz

夾具設計：符合ASTM D150標準

測試原理：平行板電容器原理

高分子材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

測試電極：平行板上下電極+保護電極

電極直徑：26.8mm

溫度范圍：RT-1000℃

工作溫度：RT-600℃，RT-800℃

分析儀的其他關鍵特性還包括：緊湊的外形，可與其他儀器和工具合理利用工作臺空間；簡單易操作的用戶界面；10.4 英寸彩色 LCD 觸摸顯示屏；多重設置功能，可確保用戶對同一時間不同條件下的多個參數(shù)進行評估；精心設計的等效電路分析功能，支持七種不同的多參數(shù)模式，利用此項功能用戶能夠?qū)υ骷牡刃?shù)值進行仿真。

控溫精度：±0.3℃

顯示精度：0.1℃

升溫速率：1-6℃/min

4個元件測試夾具（被測件尺寸：0.5 mm至20 mm）

獨立選擇2個通道的參數(shù)

直接讀取介電常數(shù)、導磁率（選件）

控溫方式：提供恒溫、變溫、常溫三種控溫方式，同時結(jié)合升溫、降溫溫區(qū)可組合7種不同的測量方法。

溫度控制：帶智能PID控制算法，全溫區(qū)控溫無超調(diào)。

2個材料夾具（工作溫度：-55至+200攝氏度）

多功能分析（溫度、科爾-科爾圖表、松弛時間）

掃描參數(shù)（頻率、交流電平、直流偏置、溫度）

E4990A 可在寬泛的阻抗區(qū)間提供 0.045%（典型值）的基本精度。E4991B 的基本精度為 0.65%，并且配有精確的材料測量選件，可以執(zhí)行 -55oC ~ 150 oC 的溫度表征，以及支持介電常數(shù)和導磁率的直接讀取功能。

F阻抗/材料分析儀為表面貼裝元件和介電/磁性材料的高精度測量提供總體解決方案。Agilent 4291使用的不是反射測量技術，而是直接電流和電壓測量技術，從而能在寬阻抗范圍進行更精確的阻抗測量。

基本阻抗精度為±0.8%。其高Q值精度可用于分析低損耗元件。

圖譜數(shù)據(jù)：頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜、時間譜、介溫譜一次測量，同時輸出，可保存BMP格式文件。

數(shù)據(jù)保存：數(shù)據(jù)庫存儲，支持excel、txt格式導出

其高Q值精度可用于分析低損耗元件。內(nèi)部合成器的掃描頻率從1MHz至1.8GHz，具有1mHz的分辨率。1.8m長的電纜把分析儀接到測試臺，因而能使測試點離開分析儀，而不會損失精度。的校準和誤差補償功能可扣除夾具造成的測量誤差，保證對DUT/MUT的高精度和可重復性。

測試樣品：薄膜、陶瓷

樣品尺寸：直徑：小于40mm，厚度：小于8mm

通訊接口：RS232接口

自動電平精度控制和用IBASIC程序功能監(jiān)視測試信號；可在恒壓或恒流下測量器件。用可選的直流偏置(達40V和100mA)使測量偏置獨立于阻抗特性。只要按一個按鈕，內(nèi)裝的等效電路分析功能就自動計算5種電路模型的電路常數(shù)值。

高溫介電測量系統(tǒng)用于高溫下材料的介電性能測量與分析，包括介電常數(shù)、介質(zhì)損耗、電容等參數(shù)。系統(tǒng)軟件也可以測量其它阻抗參數(shù)。

*整合的研究系統(tǒng)，可用來測試從絕緣體到超導體的大部分材料的電學性質(zhì)。此測試系統(tǒng)即提供時域技術，如恒定電流，通過脈沖電壓和掃描電壓（I-V）確定材料的電學性能；又提供AC技術如阻抗、電容、C-V或者Mott-Schottky來提供更多細節(jié)信息進一步分析材料的導電機理。

系統(tǒng)使用圓柱型電極方法測量介電參數(shù)，應用于絕緣材料產(chǎn)品的開發(fā)與檢測，評估產(chǎn)品介電性能與溫度的關系。

安捷倫的xin阻抗分析儀是業(yè)界唯yi能在 20 Hz ~ 3 GHz 頻率范圍內(nèi)對毫歐姆到兆歐姆的所有元器件執(zhí)行高精度測量的儀器，因而能夠輕松評估高質(zhì)量元器件的真實特征。

為分析低電導率、低損耗材料要擴展即使是的頻響分析儀的能力。阻抗儀（1260）單獨使用時，已不能有效地解決上述問題。

高溫阻抗測量系統(tǒng)用于高溫下材料的阻抗性能測量與分析，包括阻抗、相位角及其它變換參數(shù)。系統(tǒng)軟件也可以測量介電常數(shù)與介質(zhì)損耗等介電參數(shù)。

超高阻抗測試儀接口克服了這些限制，提供一個范圍超過了12個數(shù)量級的快速、精確、可重復的阻抗測量，阻抗測量超過100TΩ（1014Ω），可洞察各種材料包括聚合物、橡膠、木材、粘膠劑、電子元件、石臘及油類等的特性。與易于操作的軟件相結(jié)合，系統(tǒng)能照應實驗技術而讓你集中精力于所得結(jié)果的分析。

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高分子材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

北京航天縱橫檢測儀器有限公司

高分子材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

高低頻介電常數(shù)測試儀

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的*方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法

技術參數(shù)

校準頻率：DC-30MHz

夾具設計：符合ASTM D150標準

測試原理：平行板電容器原理

高分子材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

測試電極：平行板上下電極+保護電極

電極直徑：26.8mm

溫度范圍：RT-1000℃

工作溫度：RT-600℃，RT-800℃

控溫精度：±0.3℃

顯示精度：0.1℃

升溫速率：1-6℃/min

4個元件測試夾具（被測件尺寸：0.5 mm至20 mm）

獨立選擇2個通道的參數(shù)

直接讀取介電常數(shù)、導磁率（選件）

控溫方式：提供恒溫、變溫、常溫三種控溫方式，同時結(jié)合升溫、降溫溫區(qū)可組合7種不同的測量方法。

溫度控制：帶智能PID控制算法，全溫區(qū)控溫無超調(diào)。

2個材料夾具（工作溫度：-55至+200攝氏度）

多功能分析（溫度、科爾-科爾圖表、松弛時間）

掃描參數(shù)（頻率、交流電平、直流偏置、溫度）

E4990A 可在寬泛的阻抗區(qū)間提供 0.045%（典型值）的基本精度。E4991B 的基本精度為 0.65%，并且配有精確的材料測量選件，可以執(zhí)行 -55oC ~ 150 oC 的溫度表征，以及支持介電常數(shù)和導磁率的直接讀取功能。

F阻抗/材料分析儀為表面貼裝元件和介電/磁性材料的高精度測量提供總體解決方案。Agilent 4291使用的不是反射測量技術，而是直接電流和電壓測量技術，從而能在寬阻抗范圍進行更精確的阻抗測量。

基本阻抗精度為±0.8%。其高Q值精度可用于分析低損耗元件。

圖譜數(shù)據(jù)：頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜、時間譜、介溫譜一次測量，同時輸出，可保存BMP格式文件。

數(shù)據(jù)保存：數(shù)據(jù)庫存儲，支持excel、txt格式導出

測試樣品：薄膜、陶瓷

樣品尺寸：直徑：小于40mm，厚度：小于8mm

通訊接口：RS232接口

高溫介電測量系統(tǒng)用于高溫下材料的介電性能測量與分析，包括介電常數(shù)、介質(zhì)損耗、電容等參數(shù)。系統(tǒng)軟件也可以測量其它阻抗參數(shù)。

系統(tǒng)使用圓柱型電極方法測量介電參數(shù)，應用于絕緣材料產(chǎn)品的開發(fā)與檢測，評估產(chǎn)品介電性能與溫度的關系。

安捷倫的xin阻抗分析儀是業(yè)界唯yi能在 20 Hz ~ 3 GHz 頻率范圍內(nèi)對毫歐姆到兆歐姆的所有元器件執(zhí)行高精度測量的儀器，因而能夠輕松評估高質(zhì)量元器件的真實特征。

為分析低電導率、低損耗材料要擴展即使是的頻響分析儀的能力。阻抗儀（1260）單獨使用時，已不能有效地解決上述問題。

高溫阻抗測量系統(tǒng)用于高溫下材料的阻抗性能測量與分析，包括阻抗、相位角及其它變換參數(shù)。系統(tǒng)軟件也可以測量介電常數(shù)與介質(zhì)損耗等介電參數(shù)。

具有抗電磁*力強、頻率范圍寬等特點，主要應用于材料研究與應用開發(fā)。測試電極使用鉑金材料，可減少接觸電阻。根據(jù)不同的測試材料，可以選擇四探針與兩探針兩種測試夾具。

技術參數(shù)

校準頻率：DC-30MHz

夾具設計：符合ASTM D150標準

測試原理：平行板電容器原理

測試電極：平行板上下電極+保護電極

阻抗測量超過100TΩ（1014Ω），測試范圍從100Ω-100TΩ，達12個數(shù)量級；

精確測量介質(zhì)損耗，tanδ<10-4；

頻率范圍：10μHz ～10MHz；

隨著低功耗緊湊型設備市場需求的激增，高效的電源轉(zhuǎn)換器已經(jīng)變得更加重要，而且需要知道產(chǎn)品設計階段關鍵的低損耗元器件的真實特征。

電極直徑：26.8mm

溫度范圍：RT-1000℃

工作溫度：RT-600℃，RT-800℃

可施加交流信號電壓及直流偏壓

施加高達1000V電壓（用外接高壓源或放大器）

去揭示先前難于達到的一些基本數(shù)據(jù)。

直接測量介電常數(shù)和介電損耗，阻抗譜cole-cole圖，壓電機電耦合系數(shù)，磁導率；

同時符合標準和國家標準。

控溫方式：提供恒溫、變溫、常溫三種控溫方式，同時結(jié)合升溫、降溫溫區(qū)可組合7種不同的測量方法。

溫度控制：帶智能PID控制算法，全溫區(qū)控溫無超調(diào)。

圖譜數(shù)據(jù)：頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜、時間譜、介溫譜一次測量，同時輸出，可保存BMP格式文件。

控溫精度：±0.3℃

顯示精度：0.1℃

升溫速率：1-6℃/min

視頻帶寬：10Hz--1MH 1-10STEP

振幅測量范圍：20dBm-平均顯示噪聲電平

顯示范圍（對數(shù)）：10dB/div 8div 1，2，5dB/div 10div

數(shù)據(jù)保存：數(shù)據(jù)庫存儲，支持excel、txt格式導出

測試樣品：薄膜、陶瓷

樣品尺寸：直徑：小于40mm，厚度：小于8mm

通訊接口：RS232接口

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GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的*方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

工作溫度：RT-600℃，RT-800℃

直接讀取介電常數(shù)、導磁率（選件）

控溫方式：提供恒溫、變溫、常溫三種控溫方式，同時結(jié)合升溫、降溫溫區(qū)可組合7種不同的測量方法。

溫度控制：帶智能PID控制算法，全溫區(qū)控溫無超調(diào)。

多功能分析（溫度、科爾-科爾圖表、松弛時間）

掃描參數(shù)（頻率、交流電平、直流偏置、溫度）

E4990A 可在寬泛的阻抗區(qū)間提供 0.045%（典型值）的基本精度。E4991B 的基本精度為 0.65%，并且配有精確的材料測量選件，可以執(zhí)行 -55oC ~ 150 oC 的溫度表征，以及支持介電常數(shù)和導磁率的直接讀取功能。

F阻抗/材料分析儀為表面貼裝元件和介電/磁性材料的高精度測量提供總體解決方案。Agilent 4291使用的不是反射測量技術，而是直接電流和電壓測量技術，從而能在寬阻抗范圍進行更精確的阻抗測量。

基本阻抗精度為±0.8%。其高Q值精度可用于分析低損耗元件。

圖譜數(shù)據(jù)：頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜、時間譜、介溫譜一次測量，同時輸出，可保存BMP格式文件。

數(shù)據(jù)保存：數(shù)據(jù)庫存儲，支持excel、txt格式導出

樣品尺寸：直徑：小于40mm，厚度：小于8mm

高溫介電測量系統(tǒng)用于高溫下材料的介電性能測量與分析，包括介電常數(shù)、介質(zhì)損耗、電容等參數(shù)。系統(tǒng)軟件也可以測量其它阻抗參數(shù)。

系統(tǒng)使用圓柱型電極方法測量介電參數(shù)，應用于絕緣材料產(chǎn)品的開發(fā)與檢測，評估產(chǎn)品介電性能與溫度的關系。

安捷倫的xin阻抗分析儀是業(yè)界唯yi能在 20 Hz ~ 3 GHz 頻率范圍內(nèi)對毫歐姆到兆歐姆的所有元器件執(zhí)行高精度測量的儀器，因而能夠輕松評估高質(zhì)量元器件的真實特征。

為分析低電導率、低損耗材料要擴展即使是的頻響分析儀的能力。阻抗儀（1260）單獨使用時，已不能有效地解決上述問題。

高溫阻抗測量系統(tǒng)用于高溫下材料的阻抗性能測量與分析，包括阻抗、相位角及其它變換參數(shù)。系統(tǒng)軟件也可以測量介電常數(shù)與介質(zhì)損耗等介電參數(shù)。

具有抗電磁*力強、頻率范圍寬等特點，主要應用于材料研究與應用開發(fā)。測試電極使用鉑金材料，可減少接觸電阻。根據(jù)不同的測試材料，可以選擇四探針與兩探針兩種測試夾具。

阻抗測量超過100TΩ（1014Ω），測試范圍從100Ω-100TΩ，達12個數(shù)量級；

精確測量介質(zhì)損耗，tanδ<10-4；

頻率范圍：10μHz ～10MHz；

隨著低功耗緊湊型設備市場需求的激增，高效的電源轉(zhuǎn)換器已經(jīng)變得更加重要，而且需要知道產(chǎn)品設計階段關鍵的低損耗元器件的真實特征。

工作溫度：RT-600℃，RT-800℃

去揭示先前難于達到的一些基本數(shù)據(jù)。

直接測量介電常數(shù)和介電損耗，阻抗譜cole-cole圖，壓電機電耦合系數(shù)，磁導率；

控溫方式：提供恒溫、變溫、常溫三種控溫方式，同時結(jié)合升溫、降溫溫區(qū)可組合7種不同的測量方法。

溫度控制：帶智能PID控制算法，全溫區(qū)控溫無超調(diào)。

圖譜數(shù)據(jù)：頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜、時間譜、介溫譜一次測量，同時輸出，可保存BMP格式文件。

顯示范圍（對數(shù)）：10dB/div 8div 1，2，5dB/div 10div

數(shù)據(jù)保存：數(shù)據(jù)庫存儲，支持excel、txt格式導出