瞬變電壓吸收器件的應用
浪涌抗擾度試驗是電子設備常用的抗擾度試驗項目中的一種，導致浪涌沖擊抗擾度試驗失敗的主要原因是浪涌脈沖本身所含有的高電壓(數千伏)和高能量(每脈沖浪涌波含有的能量達到幾百焦耳。作為比較，每脈沖的脈沖群信號含有的能量僅僅是毫焦耳級的;而每脈沖靜現放電波形含有的能量是皮焦耳級的)。過高的差模電壓幅度會導致輸入器件擊穿損壞，而過高的共模電壓會導致線路與地之間的絕緣層擊穿。舉例來說，電子設備由于器件擊穿后的阻抗很低，浪涌所產生的大電流可以使器件產生過熱而損壞。對于電源電路來說，浪涌到來時，整流和濾波電容提供了很低的阻抗，浪涌所產生的大的電流要流過整流二極管，當整流二極管不能承受這個電流時，就會發生過熱而燒毀。另外，浪涌對濾波電容的充電，也會使電容上的電壓超出電容耐壓允許的程度，而導致電容擊穿和損壞。由于浪涌脈沖的上升時間較長(微秒級)，脈寬較寬(幾十微秒至 1 毫秒)，因此浪涌脈沖不含很高的頻率成分，對電路形成的干擾以傳導為主。
對于浪涌脈沖的這種高能量和所含諧波頻率相對偏低的特點，采用一般的濾波(如電源線濾波器和信號線濾波器)和吸收(如鐵氧體磁環)，基本上是無效的(用示波器觀察，進入和離開這些器件的浪涌脈沖幾乎沒有發生變化)，而有用的就是浪涌保護器件(或稱浪涌吸收器件、浪涌抑制器件和瞬變電壓吸收器件等)，用在設備的電源和信號端口，阻止浪涌脈沖進入設備的內部。
常用的浪涌保護器件有氣體放電管、壓敏電阻、硅瞬變吸收二極管和半導體放電管等幾種。
