MCW-2010A型（渦流）鍍層測厚儀

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產品型號MCW-2010A型

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更新時間：2018-05-15 16:02:22瀏覽次數：313次

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產品簡介

MCW-2010A型（渦流）鍍層測厚儀采用抗干擾技術、測量精度高、數字顯示、功耗低、內置探頭全量程測量、機型小巧、操作簡捷；且具有欠電指示、統計、系統/零點/兩點校準功能，其性能已經達到同類儀器的*水平。

詳細介紹

MCW-2010A鍍層測厚儀簡介：
MCW-2010A型（渦流）鍍層測厚儀采用抗干擾技術、測量精度高、數字顯示、功耗低、內置探頭全量程測量、機型小巧、操作簡捷；且具有欠電指示、統計、系統/零點/兩點校準功能，其性能已經達到同類儀器的*水平。

MCW-2010A鍍層測厚儀主要技術參數：
1、測量范圍：　　0~1200um
2、測量誤差：　　<3%±1um
3、zui小示值：　　1um
4、顯示方式： 4位液晶數字顯示
5、主要功能：
(1).測量：內置探頭全量程測厚
(2).統計：設有三個統計量：平均值、zui大值、zui小值
(3).校準：可進行零點校準、兩點校準及系統校準
(4).電量：具有欠壓顯示功能
(5).蜂鳴提示：操作過程中有蜂鳴提示
(6).關機：具有自動關機和手動關機兩種方式
6、電源：兩節1.5v電池
7、功耗：zui大功耗110mw
8、外形盡寸：115mm*45mm*25mm
9、重量：100g（含電池）
10、使用環境溫度：0℃~+40℃ 相對濕度：不大于90%
11、基體zui小厚度： 0.3mm
12、基體zui小平面的直徑： 7mm
13、zui小曲率半徑：凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠電壓指示：右上角顯示＂＂
*臨界厚度值：工件基體厚度大于1mm時，其鍍層厚度的測量不受基體厚度影響。