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行業(yè)產(chǎn)品

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北京智德創(chuàng)新儀器設(shè)備有限公司


多功能介質(zhì)損耗因數(shù)測量儀

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參   考   價: 78000

訂  貨  量: ≥1 臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號ASTM D150

品       牌智德創(chuàng)新

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

聯(lián)系方式:劉雪查看聯(lián)系方式

更新時間:2024-02-25 07:23:25瀏覽次數(shù):160次

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產(chǎn)品簡介

多功能介質(zhì)損耗因數(shù)測量儀試樣從測試電極中取出,調(diào)節(jié)C或測試電極的距離,使電路重新諧振,記下C、或測試電極的校正電容值與Q值,北京智德創(chuàng)新檢測儀器并根據(jù)測試值計算出損耗角tanδ與介電常數(shù)ε。

詳細介紹

多功能介質(zhì)損耗因數(shù)測量儀

介電常數(shù)和介質(zhì)損耗作為材料一項重要的性能指標,可以反映電介質(zhì)內(nèi)部的介電馳豫過程,也 就是電介質(zhì)對外加電場的響應(yīng)過程,它是了解聚合 物高分子結(jié)構(gòu)和有關(guān)材料性能的重要手段,對研究 固體中的空間電荷和晶體中的缺陷有重要意義,而 且材料和器件的老化現(xiàn)象也與長時間弛豫效應(yīng)有 關(guān)。介電弛豫有兩種主要機理:一種是體系中的取 向極化;另一種是系統(tǒng)中存在許多微觀的亞穩(wěn)態(tài), 由一個亞穩(wěn)態(tài)過渡到另一亞穩(wěn)態(tài)或基態(tài)需跨越位 壘,過渡時間與位壘高度有關(guān)。對聚合物/無機納米 (或微米)復合電介質(zhì)來說,聚合物基體、無機顆粒、 界面區(qū)域三部分的電學性質(zhì)wan全不同,它們都有可 能引起不同性質(zhì)的極化。另外電介質(zhì)與電極的界 面處也可能產(chǎn)生極化。對不同的填充物,起主導作 用的極化過程也不一樣。在純環(huán)氧樹脂材料中添 加微米Al2O3填料可以顯著改善材料的熱導率和耐 電樹枝生長等性能,對電氣設(shè)備的運行可靠性起著重要作用。


測試意義:

1、介電常數(shù)——北京智德創(chuàng)新檢測儀器絕緣材料通常以兩種不同方式來使用,即(1)用于固定電學網(wǎng)絡(luò)部件,同時讓其彼此以及與地面絕緣;(2)用于起到某一電容器的電介質(zhì)作用。在第一種應(yīng)用中,通常要求固定的電容盡可能小,同時具有可接受且一致的機械,化學和耐熱性能。因此要求電容率具有一個低值。在第二種應(yīng)用中,要求電容率具有一個高值,以使得電容器能夠在外型上能盡可能小。有時使用電容率的中間值來評估在導體邊緣或末端的應(yīng)力,以將交流電暈降至最小。
    2、交流損耗——對于這兩種場合(作為電學絕緣材料和作為電容器電介質(zhì)),交流損耗通常必須是比較小的,以減小材料的加熱,同時將其對網(wǎng)絡(luò)剩余部分的影響降至最小。在高頻率應(yīng)用場合,特別要求損耗指數(shù)具有一個低值,因為對于某一給定的損耗指數(shù),電介質(zhì)損耗直接隨著頻率而增大。在某些電介質(zhì)結(jié)構(gòu)中,例如試驗用終止襯套和電纜所用的電介質(zhì),通常電導增加可獲得損耗增大,這有時引入其來控制電壓梯度。在比較具有近似相同電容率的材料時或者在材料電容率基本保持恒定的條件下使用任何材料時,這可能有助于考慮耗散因子,功率因子,相位角或損耗角。
    3、相關(guān)性——北京智德創(chuàng)新檢測儀器當獲得適當?shù)南嚓P(guān)性數(shù)據(jù)時,耗散因子或功率因子有助于顯示某一材料在其它方面的特征,例如電介質(zhì)擊穿,濕分含量,固化程度和任何原因?qū)е碌钠茐摹H欢捎跓崂匣瘜е碌钠茐膶⒉粫绊懞纳⒁蜃樱遣牧想S后暴露在濕分中。當耗散因子的初始值非常重要的,耗散因子隨著老化發(fā)生的變化通常是及其顯著的。


多功能介質(zhì)損耗因數(shù)測量儀注意事項:

  1、介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀應(yīng)水平安放。
 
  2、調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關(guān)時,當接近諧振點時請緩調(diào)。
 
  3、如果你需要較地測量,請接通電源后,介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀預熱30分鐘。
 
  4、被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊。
 
  5、被測件和測試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短,足夠粗,并應(yīng)接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差。
 
  6、手不得靠近試件,以免人體感應(yīng)影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線柱。



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