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珠海天創儀器有限公司
WH82鐵鋁基兩用涂層測厚儀,鐵基和鋁基兩用快速全自動轉換(無須手動操作轉換)。除單點校準、兩點校準和恢復出廠設置功能外,還增加了自助標定修復功能;當儀器測頭因長期磨損導致測試值誤差超出正常范圍時,用戶可直接向儀器重新輸入數據,修復儀器測頭系統,恢復測量準確度,節約返廠時間及運輸成本。
WH82鐵鋁基兩用涂層測厚儀
產品介紹
WH82鐵鋁基兩用涂層測厚儀,鐵基和鋁基兩用快速全自動轉換(無須手動操作轉換)。除單點校準、兩點校準和恢復出廠設置功能外,還增加了自助標定修復功能;當儀器測頭因長期磨損導致測試值誤差超出正常范圍時,用戶可直接向儀器重新輸入數據,修復儀器測頭系統,恢復測量準確度,節約返廠時間及運輸成本。
Fe質探針可檢測所有非磁性涂層厚度,例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷等。
NFe質探針檢測所有絕緣涂層厚度,例如涂在諸如鋁、銅、黃銅或不銹鋼等非磁性金屬基體上的漆、塑料、瓷等。
WH82鐵鋁基兩用涂層測厚儀測量原理
采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、 油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、 鋁、 鋅、 錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
a) 磁性法(F 型測量頭)
當測量頭與覆蓋層接觸時,測量頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。
b) 渦流法(N 型測量頭)
利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場,當測量頭與覆蓋層接觸時,金屬基體上產生電渦流,并對測量頭中的線圈產生反饋作用,通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。
WH82鐵鋁基兩用涂層測厚儀技術參數
測量范圍 | 0-1500um |
工作電源 | 兩節 5 號電池 |
測量精度誤差 | 零點校準 ±(1+3%H);二點校準±【(1%~3%H)】H+1.5 |
環境溫度 | 0-40℃ |
相對濕度 | ≤85% |
小基體 | 10*10mm |
小曲率 | 凸:5mm;凹 :5mm |
薄基體 | 0.4mm |
重量 | 115 克(含電池) |
尺寸 | 102mm*66mm*24mm |
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