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深圳市拓升光電有限公司
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低亮高灰:16bit低亮高灰, 200nits下依然保持高灰度無損技術(shù),畫面細(xì)節(jié)清晰可見;
高刷新率:3840HZ,屏幕無閃爍;
寬廣色域:支持2500k到9500k色溫寬域調(diào)節(jié),色彩豐富;
逐點(diǎn)校正:保證整屏顏色高度*性和均勻性;超高清P2.5全彩LED大屏幕1080P尺寸及價(jià)格
超高清P2.5全彩LED大屏幕1080P尺寸及價(jià)格
科學(xué)技術(shù)是生產(chǎn)力,那么對于一個(gè)LED顯示屏企業(yè)而言,產(chǎn)品則是競爭力。LED電子屏產(chǎn)品優(yōu)劣表現(xiàn)在芯片光衰、芯片亮度、芯片視角、封裝、驅(qū)動電源、驅(qū)動IC、面罩等方面,以高性價(jià)比占領(lǐng)市場,有了好的產(chǎn)品并不代表企業(yè)就一定能成功,影響LED大屏廠家發(fā)展的因素有很多。俗話說:貨比三家。客戶在購買前肯定會多咨詢,比較zui多的便是價(jià)格,過高的價(jià)格就算產(chǎn)品本身得到別人青睞,也很有可能與之擦肩而過。拓升LED顯示屏大屏廠家報(bào)價(jià),*,工廠批發(fā)價(jià)格,深圳室內(nèi)全彩LED顯示屏上門定做,中國臺灣晶元芯片,打造具性價(jià)比LED顯示屏品牌。
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現(xiàn)在led顯示屏在我們生活日益可見,給人們的生活增添了一道亮麗的風(fēng)采,可是我們不僅僅看到是風(fēng)采,還要看到led顯示屏在關(guān)鍵時(shí)刻所帶來的故障,這也是造成用戶zui頭疼的事,那么我們該如何解決呢?首先我們要找到led顯示屏?xí)心男┕收铣l(fā)生?如led亮度、黑屏,一閃閃的等等這些問題。那么我們將如何對led顯示屏維修,在維修時(shí)候需要注意什么呢?以及維修的基本步驟是什么?開拓普做了些經(jīng)驗(yàn)總結(jié),在遇到這些問題時(shí)對癥下藥!
led顯示屏出現(xiàn)問題也是千變?nèi)f化,所以也不好具體爭對哪個(gè)問題進(jìn)行詳細(xì)的講解,那么我們就說說全彩led顯示屏維修的檢測方法和維修基本步驟吧。這個(gè)能掌握的話,我想led在關(guān)鍵時(shí)刻出現(xiàn)狀況,可以從這幾點(diǎn)查看原因,并解決掉問題。
LED顯示屏平常檢修方法及步驟
一、led顯示屏維修的檢測方法
led顯示屏維修的檢測方法有,短路檢測法、電阻檢測法、電壓檢測法、壓降檢測法,那么我們具體說說這些方法。
1、短路檢測法,將萬用表調(diào)到短路檢測擋(一般具有報(bào)警功能,如導(dǎo)通則發(fā)出鳴叫聲),檢測是否有短路的現(xiàn)象出現(xiàn),發(fā)現(xiàn)短路后應(yīng)馬上解決,短路現(xiàn)象也是zui常見的LED顯示屏模塊故障。有的通過觀察IC引腳和排針引腳就能發(fā)現(xiàn)。短路檢測應(yīng)在電路斷電的情況下操作,避免損壞萬用表。這個(gè)方法是zui常用到的方法,簡單、高效。90%的故障都可以通過這個(gè)方法檢測判斷。
2、電阻檢測法,將萬用表調(diào)到電阻檔,檢測一塊正常的電路板的某點(diǎn)的到地電阻值,再檢測另一塊相同的電路板的同一個(gè)點(diǎn)測試與正常的電阻值是否有不同,若不同則就確定了問題的范圍。
3、電壓檢測法,將萬用表調(diào)到電壓檔,檢測懷疑有問題的電路的某個(gè)點(diǎn)的到地電壓,比較是否與正常值相似,可以方便的確定問題的范圍。
4、壓降檢測法,將萬用表調(diào)到二極管壓降檢測檔,因?yàn)樗械腎C都是由基本的眾多單元件組成,只是小型化了,所以在當(dāng)它的某引腳上有電流通過時(shí),就會在引腳上存在電壓降。一般同一型號的IC相同引腳上的壓降相似,根據(jù)引腳上的壓降值比較好壞,須在電路斷電的情況下操作。
二、維修工具
1、電烙鐵+吸槍各1個(gè),焊錫若干
2、電批1個(gè),用于快速拆卸模組或者單元板
3、電腦+發(fā)送卡,用于給接收卡發(fā)送程序
4、萬用表一個(gè),用于檢測模組或者單元板具體故障
5、鑷子、剪刀、剪鉗各1把
6、接收卡+HUB板,用于觀測模組或者單元板故障現(xiàn)象
LED顯示屏平常檢修方法及步驟
三、LED顯示屏維修基本步驟
1、確定模組或者單元板使用的HUB板類型,這樣排線的接口定義才能一樣
2、根據(jù)不同型號的模組或者單元板,給接收卡發(fā)送相應(yīng)的程序,確保模組和單元板在正確的程序下顯示,這是找出故障原因的前提。一般PCB板上都會印有該模組或者單元板的型號。
3、觀測模組或者單元板現(xiàn)象,確定初步故障。例如常見的瞎燈,串點(diǎn),小方塊等。
4、使用萬用表找出故障,主要是利用上面的短路檢測法,對芯片和燈腳之間進(jìn)行檢測。
5、再次檢測
LED顯示屏相比其他顯示技術(shù),具有自發(fā)光、色彩還原度優(yōu)異、刷新率高、省電、易于維護(hù)等優(yōu)勢。高亮度、通過拼接可實(shí)現(xiàn)超大尺寸這兩個(gè)特性,是led顯示屏在過去二十年高速增長的決定性因素。在超大屏幕室外顯示領(lǐng)域,迄今還沒有其他技術(shù)能夠與LED顯示技術(shù)相抗衡。
但是在過去,led顯示屏也有其不足,比如封裝燈珠之間間距大,造成分辨率較低,不適合室內(nèi)和近距離觀看。為了提高分辨率,必需縮小燈珠之間間距,但是燈珠的尺寸縮小,雖然能夠提升整屏分辨率,成本也會快速上升,過高的成本影響了小間距l(xiāng)ed顯示屏的大規(guī)模商業(yè)應(yīng)用。
近幾年來,借助于芯片制造和封裝廠商、IC電路廠商和屏幕制造廠商等的多方努力,單封裝器件成本越來越低,LED封裝器件越來越小,顯示屏像素間距越來越小、分辨率越來越高,使得小間距l(xiāng)ed顯示屏在戶內(nèi)大屏顯示方面的優(yōu)勢越來越明顯。
超高清P2.5全彩LED大屏幕1080P尺寸及價(jià)格目前,小間距LED主要應(yīng)用于廣告?zhèn)髅健Ⅲw育場館、舞臺背景、市政工程等領(lǐng)域,并且在交通、廣播等領(lǐng)域不斷開拓市場。預(yù)計(jì)到2018年,市場規(guī)模接近百億。可以預(yù)測,在未來幾年內(nèi),小間距l(xiāng)ed顯示屏將不斷擴(kuò)展*,并擠占DLP背投的市場空間。據(jù)光大證券研究所預(yù)測,到2020年,小間距l(xiāng)ed顯示屏對DLP背投的替代率將達(dá)到70%~80%。
筆者從業(yè)于藍(lán)綠LED芯片制造行業(yè),從事產(chǎn)品開發(fā)工作多年。下面從產(chǎn)品設(shè)計(jì)、工藝技術(shù)的角度來論述小間距l(xiāng)ed顯示屏的發(fā)展對藍(lán)綠LED芯片提出的需求,以及芯片端可能采取的應(yīng)對方案。
二、小間距l(xiāng)ed顯示屏對LED芯片提出的需求
作為led顯示屏核心的LED芯片,在小間距LED發(fā)展過程中起到了至關(guān)重要的作用。小間距l(xiāng)ed顯示屏目前的成就和未來的發(fā)展,都依賴于芯片端的不懈努力。
一方面,戶內(nèi)顯示屏點(diǎn)間距從早期的P4,逐步減小到P1.5,P1.0,還有開發(fā)中的P0.8。與之對應(yīng)的,燈珠尺寸從3535、2121縮小到1010,有的廠商開發(fā)出0808、0606尺寸,甚至有廠商正在研發(fā)0404尺寸。
*,封裝燈珠的尺寸縮小,必然要求芯片尺寸的縮小。目前,市場常見小間距顯示屏用藍(lán)綠芯片的表面積為30mil2 左右,部分芯片廠已經(jīng)在量產(chǎn)25mil2 ,甚至20mil2 的芯片。
另一方面,芯片表面積的變小,單芯亮度的下降,一系列影響顯示品質(zhì)的問題也變得突出起來。
首先是對于灰度的要求。與戶外屏不同,戶內(nèi)屏需求的難點(diǎn)不在于亮度而在于灰度。目前戶內(nèi)大間距屏的亮度需求是1500 cd/m2 -2000 cd/m2左右,小間距l(xiāng)ed顯示屏的亮度一般在600 cd/m2 -800 cd/m2 左右,而適宜于*注目的顯示屏亮度在100 cd/m2 -300cd/m2 左右。
目前小間距LED屏幕的難題之一是“低亮低灰”。即在低亮度下的灰度不夠。要實(shí)現(xiàn)“低亮高灰”,目前封裝端采用的方案是黑支架。由于黑支架對芯片的反光偏弱,所以要求芯片有足夠的亮度。
其次是顯示均勻性問題。與常規(guī)屏相比,間距變小會出現(xiàn)余輝、*掃偏暗、低亮偏紅以及低灰不均勻等問題。目前,針對余輝、*掃偏暗和低灰偏紅等問題,封裝端和IC控制端都做出了努力,有效的減緩了這些問題,低灰度下的亮度均勻問題也通過逐點(diǎn)校正技術(shù)有所緩解。但是,作為問題的根源之一,芯片端更需要付出努力。具體來說,就是小電流下的亮度均勻性要好,寄生電容的*性要好。
第三是可靠性問題。現(xiàn)行行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)是LED死燈率允許值為萬分之一,顯然不適用于小間距l(xiāng)ed顯示屏。由于小間距屏的像素密度大,觀看距離近,如果一萬個(gè)就有1個(gè)死燈,其效果令人無法接受。未來死燈率需要控制在十萬分之一甚至是百萬分之一才能滿足*使用的需求。
總的來說,小間距LED的發(fā)展,對芯片段提出的需求是:尺寸縮小,相對亮度提升,小電流下亮度*性好,寄生電容*性好,可靠性高。
三、芯片端的解決方案
1. 尺寸縮小芯片尺寸縮小
表面上看,就是版圖設(shè)計(jì)的問題,似乎只要根據(jù)需要設(shè)計(jì)更小的版圖就能解決。但是,芯片尺寸的縮小是否能無限的進(jìn)行下去呢?答案是否定的。有如下幾個(gè)原因制約著芯片尺寸縮小的程度:
(1)封裝加工的限制。封裝加工過程中,兩個(gè)因素限制了芯片尺寸的縮小。一是吸嘴的限制。固晶需要吸取芯片,芯片短邊尺寸必須大于吸嘴內(nèi)徑。目前有性價(jià)比的吸嘴內(nèi)徑為80um左右。二是焊線的限制。首先是焊線盤即芯片電極必須足夠大,否則焊線可靠性不能保證,業(yè)內(nèi)報(bào)道zui小電極直徑45um;其次是電極之間的間距必須足夠大,否則兩次焊線間必然會相互干擾。
(2)芯片加工的限制。芯片加工過程中,也有兩方面的限制。其一是版圖布局的限制。除了上述封裝端的限制,電*小,電極間距有要求外,電極與MESA距離、劃道寬度、不同層的邊界線間距等都有其限制,芯片的電流特性、SD工藝能力、光刻的加工能力決定了具體限制的范圍。通常,P電極到芯片邊緣的zui小距離會限定在14μm以上。
其二是劃裂加工能力的限制。SD劃片+機(jī)械裂片工藝都有極限,芯片尺寸過小可能無法裂片。當(dāng)晶圓片直徑從2英寸增加到4英寸、或未來增加到6英寸時(shí),劃片裂片的難度是隨之增加的,也就是說,可加工的芯片尺寸將隨之增大。以4寸片為例,如果芯片短邊長度小于90μm,長寬比大于1.5:1的,良率的損失將顯著增加。
基于上述原因,筆者大膽預(yù)測,芯片尺寸縮小到17mil2后,芯片設(shè)計(jì)和工藝加工能力接近極限,基本再無縮小空間,除非芯片技術(shù)方案有大的突破。
2. 亮度提升
亮度提升是芯片端永恒的主題。芯片廠通過外延程式優(yōu)化提升內(nèi)量子效應(yīng),通過芯片結(jié)構(gòu)調(diào)整提升外量子效應(yīng)。
不過,一方面芯片尺寸縮小必然導(dǎo)致發(fā)光區(qū)面積縮小,芯片亮度下降。另一方面,小間距顯示屏的點(diǎn)間距縮小,對單芯片亮度需求有下降。兩者之間是存在互補(bǔ)的關(guān)系,但要留有底線。目前芯片端為了降低成本,主要是在結(jié)構(gòu)上做減法,這通常要付出亮度降低的代價(jià),因此,如何權(quán)衡取舍是業(yè)者要注意的問題。
3. 小電流下的*性
所謂的小電流,是相對常規(guī)戶內(nèi)、戶外芯片試用的電流來說的。如下圖所示的芯片I-V曲線,常規(guī)戶內(nèi)、戶外芯片工作于線性工作區(qū),電流較大。而小間距LED芯片需要工作于靠近0點(diǎn)的非線性工作區(qū),電流偏小。
在非線性工作區(qū),LED芯片受半導(dǎo)體開關(guān)閾值影響,芯片間的差異更明顯。對大批量芯片進(jìn)行亮度和波長的離散性的分析,容易看到非線性工作區(qū)的離散性遠(yuǎn)大于線性工作區(qū)。這是目前芯片端的固有挑戰(zhàn)。
應(yīng)對這個(gè)問題的辦法首先是外延方向的優(yōu)化,以降低線性工作區(qū)下限為主;其次是芯片分光上的優(yōu)化,將不同特性芯片區(qū)分開來。
4. 寄生電容*性
目前芯片端沒有條件直接測量芯片的電容特性。電容特性與常規(guī)測量項(xiàng)目之間的關(guān)系尚不明朗,有待業(yè)者去總結(jié)。芯片端優(yōu)化的方向一是外延上調(diào)整,一是電性分檔上的細(xì)化,但成本很高,不*。
5. 可靠性
芯片端可靠性可以用芯片封裝和老化過程中的各項(xiàng)參數(shù)來描述。但總的說來,芯片上屏以后的可靠性的影響因素,重點(diǎn)在ESD和IR兩項(xiàng)。
ESD是指抗靜電能力。據(jù)IC行業(yè)報(bào)道,50%以上芯片的失效與ESD有關(guān)。要提高芯片可靠性,必須提升ESD能力。但是,在相同外延片,相同芯片結(jié)構(gòu)的條件下,芯片尺寸變小必然帶來ESD能力的削弱。這是與電流密度和芯片電容特性直接相關(guān)的,無法抗拒。
IR是指反向漏電,通常是在固定反向電壓下測量芯片的反向電流值。IR反映的是芯片內(nèi)部缺陷的數(shù)量。IR值越大,則說明芯片內(nèi)部缺陷越多。
要提升ESD能力和IR表現(xiàn),必須在外延結(jié)構(gòu)和芯片結(jié)構(gòu)方面做出更多優(yōu)化。在芯片分檔時(shí),通過嚴(yán)格的分檔標(biāo)準(zhǔn),可以有效的把ESD能力和IR表現(xiàn)較弱的芯片剔除掉,從而提升芯片上屏后的可靠性。
四、總結(jié)
綜上,筆者分析了隨著小間距l(xiāng)ed顯示屏的發(fā)展,LED芯片端面臨的系列挑戰(zhàn),并逐一給出了改善方案或方向。應(yīng)該說,目前LED芯片的優(yōu)化還有很大的空間。如何提升,還待業(yè)者發(fā)揮聰明才智,持續(xù)不斷的努力。
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