日置C測試儀3504-60適合用于封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
高速測量2ms
日置C測試儀3504-60|HIOKI日置電容測試儀3504-60
能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能
3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試
查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
日置C測試儀3504-60|HIOKI日置電容測試儀3504-60
基本參數
測量參數 Cs,Cp（電容）,D（損耗系數tanδ）
測量范圍 C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
基本精度 （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各系數
測量頻率 120Hz, 1kHz
測量信號電平 恒定電壓模式: 100mV (*3504-60)， 500 mV, 1 V
日置C測試儀3504-60|HIOKI日置電容測試儀3504-60
測量范圍:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)
輸出電阻 5Ω（CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時）
顯示 發光二級管 （6位表示，滿量程計算器根據量程而定）
測量時間 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同
功能 BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C拒絕功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口（標配), GP-IB接口(3504-40除外)
電源 AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, zui大110VA
體積及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件 電源線×1，預備電源保險絲×1，使用說明書×1
(日置C測試儀3504-60|HIOKI日置電容測試儀3504-60主機不能單獨使用，測量時需要選用測試冶具或探頭)
日置HIOKI電學測試產品是本公司強項品牌價格非常有優勢歡迎詢價
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日置C測試儀3504-60電容測試儀HIOKI/日置總代理
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