實驗磨粉機  型號：JMFD70×30

     JMFD70×30型實驗磨粉機*偏心套軋距調節機構和透明磨輥端面蓋板、透明圓篩罩，是一種可調軋距、研磨和篩理過程全程可見的精密，磨粉過程與大型工業制粉過程類似，水分損失少，一般僅為0.2%-0.4%，廣泛用于實驗室對小麥樣品進行實驗制粉，進行面團流變學特性、面制品制作實驗等分析，從而評價小麥粉品質。
　 
·技術特征 
偏心套軋距調節機構，各對磨輥間隙均可調整，延長磨輥使用周期，確保研磨效果長期穩定*； 
磨輥端面為透明蓋板，磨粉作業過程中，磨輥和麥渣均清晰可見； 
圓筒篩置于透明的密封罩中，篩理過程清晰可見； 
雙曲柄機構驅動園筒篩做變速轉動，篩理效果好； 
高效四輥連續三道研磨結構，研磨過程水分損失小，樣品回收率高； 
全合金磨輥經淬火處理，硬度高，耐磨，使用壽命長； 
磨輥更換方便快捷； 
高精度，易操作； 

● 工作原理
　　JMFD70×30型屬于一種精密實驗室磨粉機，是實驗室小麥制粉的設備，含高效圓篩篩理系統，備出的面粉在出粉率、灰份、面粉品質、烘焙性能方面與磨粉間大型機組接近，用于對小麥樣品進行實驗制粉，做面團流變學特性等品質分析或烘焙實驗，評價小麥粉品質。 
　　本磨粉機*偏心套軋距調節機構，可通過適當旋轉偏心套，對各對磨輥間隙進行調整，具有調節方便、延長磨輥使用周期之優點，在磨輥的整個使用周期內，通過調整軋距，使磨輥間隙基本維持在合理狀態，具有理想而穩定*的研磨效果。 
　　本磨粉機的磨輥端具有透明蓋板，由雙曲柄機構驅動圓篩做變速轉動，具有良好的篩理效果；在磨粉作業時，研磨和篩理過程均清晰可見，具有理想的可視效果。 
JMFD70×30型的粉路，采用交錯排列的四個磨輥形成三道研磨結構，其中*道皮磨的第二個磨輥同時又是第二道皮磨的*個磨輥，第二道皮磨的第二個磨輥是zui后一道心磨的*個磨輥，在磨輥下方有圓筒狀篩子。 
　　樣品從料斗通過可調節的進料門，隨喂料輥的轉動進入*道皮磨，然后不經篩理，直接進入第二道皮磨然后直接進入心磨，zui后混合麥渣落入圓筒篩（篩絹規格6XX）。圓筒篩可自動地做加速和減速轉動動，具有高效的篩理效果，即使連續操作也不會堵塞篩絹。過篩后，面粉和麩皮分別落入面粉倉和麩皮倉中。

產品名稱：在線濁度計 在線濁度儀 產品型號：LC73-TUR

在線濁度計 在線濁度儀 型號：LC73-TUR

LC73-TUR型濁度儀具有數據記錄功能，可替代無紙記錄儀，記錄間隔時間可在10分鐘至24小時內設置，記錄數值可翻查，根據需要輸入翻查頁碼，查詢不同時段下記錄的數值。 
>一、主要特點 
◆友好的用戶界面設計 
       LC73-TUR型濁度儀使用320×240大點陣液晶顯示（目前行業內分辨率的點陣液晶）， 全中文操作菜單，即使在沒有說明書的情況下，依然可以輕松自然地進行儀表的操作使用。儀表顯示界面可同時顯示當前的濁度值、報警狀態、清洗狀況、電流輸出、通訊狀態等諸多信息。 
◆檢測數值記錄功能 
◆操作密碼保護功能 
       LC73-TUR型濁度儀進行任何設置或校準，都需輸入密碼，可有效防止儀器使用人員的誤操作。 
◆抗干擾的電流輸出 
       同類產品中幾乎都存在電流輸出不穩的問題，尤其是在有變頻器或PLC的環境下使用，電流輸出始終在上下波動，無法穩定。我公司的LC73-TUR型儀表采用新型電路，以及高速光耦隔離技術，*解決電流輸出不穩定的問題。 
◆恢復出廠設置功能 
       當用戶操作后無法確認儀表設置的數據或校準數據是否正確時，可在相應的操作界面進行恢復出廠設置功能操作，使儀表回到出廠設置狀態（此功能僅我們儀表有）。 
◆多種特殊功能設置 
      LC73-TUR型濁度控制器具有多種特色功能設置，具有如在線數值修正、恢復出廠設置、四組繼電器控制等諸多特殊功能設置。 
◆按鍵操作聲光回饋 
       LC73-TUR型濁度控制器除了具有老款中的按鍵音效回饋外，還增加了藍色高亮LED光效回饋；在一些噪聲較大的工業場合，其優點更為突出。 
◆模擬量輸出范圍可編程 
      LC73-TUR型濁度控制器標準配備一組4~20mA輸出，可選配兩組4~20mA輸出；兩組電流輸出均可編程，設置輸出范圍，出廠標準設置為零至滿量程，可認為的在滿量程內任意設置輸出范圍；且兩組輸出均可設置為逆向輸出（20.00~4.00mA）。 
◆兩個獨立繼電器遲滯量 
      LC73-TUR型濁度控制器設計有兩組獨立的繼電器遲滯量，解決了以往一個遲滯量在不同控制時的矛盾，高低點有不同的遲滯量，分別是Hd和Ld。 
◆可選配四組繼電器輸出 
      LC73-TUR型濁度控制器多可選配四組繼電器控制，多可控制6臺加藥設備。 
◆開機后自動檢測數據 
       當儀表開機后將自動檢測存儲的各個數據是否在正常范圍內，若不在正常范圍，將自動恢復到出廠設置狀態，保證儀表在使用時不會出錯。 

技術參數： 
測量范圍0.000～0.999NTU、0.000～9.999NTU、0.00～99.99、0.0～999.9NTU（可選） 
分辨率0.001NTU、0.01NTU、0.1NTU 
顯示方式320×240大點陣液晶背光顯示（目前行業內分辨率的點陣） 
發光光源激光二管（LED） – 10年壽命 
控制范圍兩組繼電器全量程內任意數值 
自動清洗時間1秒～99分59秒（自行設定） 
清洗間隔時間1～720分（自行設定） 
信號輸出4～20mA（可逆） 
通訊接口雙向RS-485，Modbus（選配） 
大水壓內置壓力調節閥，大壓力為1380KPa 
樣品流速100毫升/分 ~ 1升/分 
樣品溫度+1 ~ +50℃ 
工作電壓AC220V±10%    50/60Hz 
外形尺寸144×144×145mm 
安裝方式嵌入式安裝 
使用環境①環境溫度：-5～55℃ 
②空氣相對濕度：≤90% 
③除地球磁場外周圍無強磁場干擾 

產品名稱： 四探針測試儀/ 四探針電阻率檢測儀 產品型號：BT-300H

 四探針測試儀/ 四探針電阻率檢測儀型號：BT-300H

四探針測試儀是根據四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻進行測量，可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質量監測的必需儀器。 
儀器主要技術指標： 
1．   范圍：電阻率10-4—103Ω—cm，可擴展至105Ω—cm， 
    分辯率為10-6Ω—cm 
         方塊電阻10-3—103Ω /電阻10-6—105Ω 
2．  可測半導體尺寸：直徑Φ15—150mm 
3．  測量方式：軸向、斷面均可（手動測試架） 
4．  數字電壓表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V  
  (2)測量誤差 0.2mV檔±（0.3%讀數+8字） 
              2 mV檔以上±（0.3%讀數+2字） 
  (3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω 
              20mV檔以上>108Ω 
5．  恒流源：（1）電流輸出：直流電流0—100mA連續可調，由交流電源供給 
   （2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔 
   （3）電流誤差：±（0.3%讀數+2字） 
6．四探針測試探頭  （1）探頭間距：1mm   (2)探針機械游率：±0.3%  
                   (3) 探針：Φ0.5mm