靜電場(chǎng)描繪實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào)：JDC-4
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介
本設(shè)備在技術(shù)上采用了超細(xì)工藝，大幅度提高使用壽命，淘汰了原來導(dǎo)電橡膠探頭易耗、更換頻繁的弱點(diǎn)，改為紫銅探頭。結(jié)構(gòu)由原來的雙層改為單層，使儀器使用更方便，測(cè)試更直觀，記錄更。并真正做到儀器的一體化，使用運(yùn)輸保管更方便。在價(jià)格上做到提質(zhì)不提價(jià)。
二、技術(shù)參數(shù)
JDC-4靜電場(chǎng)描繪實(shí)驗(yàn)儀
1、導(dǎo)電層均勻性相對(duì)誤差＜3%。
2、電極與鍍膜層接觸電阻＜0.1Ω。
3、鍍層與電極的阻值比＞104.
4、測(cè)量點(diǎn)與描繪點(diǎn)之間誤差＜1mm.
5、實(shí)驗(yàn)值與理論值的相對(duì)誤差＜5%。
6、鍍層的強(qiáng)度，經(jīng)smc-1型強(qiáng)度試驗(yàn)儀，經(jīng)過一萬次磨擦試驗(yàn)，鍍膜完好無損。
7、電源輸出2v—10v連續(xù)可調(diào)。
8、電源的內(nèi)阻＜0.1Ω。
9、電源調(diào)整率優(yōu)于0.5%。
10、三位半液晶顯示。
三、基本原理
在一些科學(xué)研究和生產(chǎn)實(shí)踐中，往往需要了解帶電體周圍靜電場(chǎng)的分布情況，一般來說帶電體的形 狀比較復(fù)雜，很難用理論方法進(jìn)行計(jì)算。用實(shí)驗(yàn)手段直接研究或測(cè)繪靜電場(chǎng)通常也很困難。因?yàn)閮x表（或其探測(cè)頭）放入靜電場(chǎng)，總要使被測(cè)場(chǎng)原有分布狀態(tài)發(fā)生畸 變，而且除靜電式儀表之外的一般磁電式儀表不能用于靜電場(chǎng)的直接測(cè)量，因?yàn)殪o電場(chǎng)中不會(huì)有電流流過，對(duì)這些儀表不起作用。所以，人們常用“模擬法"間接測(cè) 繪靜電場(chǎng)的分布。
會(huì)員1.png)