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freiberg弗萊貝格MDpicts微瞬態譜儀

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廠商性質:代理商

所  在  地:鎮江市

更新時間:2024-04-10 20:08:55瀏覽次數:442

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freiberg弗萊貝格MDpicts微瞬態譜儀微波探測光誘導電流瞬態譜儀對于半導體材料少子壽命,電學參數和界面陷阱等進行非接觸和非破壞性測試

freiberg弗萊貝格MDpicts微瞬態譜儀

 微波探測光誘導電流瞬態譜儀對于半導體材料少子壽命,電學參數和界面陷阱等進行非接觸和非破壞性測試。硅| 化合物半導體 | 氧化物| 寬帶隙材料| 鈣鈦礦 | 外延層

半導體材料的基礎研究和開發
配置選項
靈敏度:對半導體材料電學缺陷有高靈敏度
溫度范圍:液氮(77K)到500K,可選:液氦(4K)或更高的溫度
衰減常數范圍:20ns到幾十ms
玷污檢測:電學陷阱基本性能確定:
激活能和陷阱的俘獲截面,受溫度和注入水平影響的少子壽命參數等
重復性:>99.5%,測試時間< 6 0 分 鐘 ,液氮消耗:2L/run
靈活性: 從365nm到1480nm,根據不同材料選擇不同波長的激發光源
輔助功能:基于IP的系統,允許在任何地方進行遠程操作。

半導體材料性能研究和開發

+  半導體材料質量控制
+  缺陷種類確定:激活能,俘獲截面等參數

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測試原理

MDpicts采用先進的光誘導電流瞬態譜測試技術(PICTS)是非接觸測試并具備更高的靈敏度,在各種半導體材料研究中開辟了新的應用。這個技術對半導體材料中的電學缺陷行為,可以提供與D L T S 技術相媲美的靈敏度,并給出載流子陷阱在材料中的主要復合中心。

 

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