比利時XenICs公司是一家世界的紅外探測器及紅外系統供應商，產品主要應用于紅外激光及光譜分析、無接觸溫度測量以及紅外熱成像系統等。XenICs的紅外探測器基于的InGaAs半導體和SiGe熱輻射測定儀技術，其可探測波長范圍覆蓋1um～14um。XenICs公司提供多種標準產品的同時也提供各種定制業務。Xenics設計并銷售各種紅外成像儀、核心和攝像機，提供同類的圖像質量，以支持創新的R &D、工業自動化、機器視覺、過程控制和安保應用。
Xenics Lynx R系列為線掃非制冷短波紅外相機，InGaAs探測器，線掃描速率高達40k Hz，標準的CameraLink或GigE接口可選 . 矩形像元適用于光譜成像、微光條件等。您將獲得低暗電流和 信噪比的圖像質量。
小型，非制，短波紅外線掃相機，正方形像素
Lynx (SQ)系列，基于自主研發的InGaAs芯片, 高性價比的短波紅外線掃相機。
幀頻可達40kHz，可滿足機器視覺應用。相機有CameraLink和GigE 接口可供選擇。
根據您不同的需求，我們有提供有三種分辨率供您選擇，512, 1024, 或者2048。
優勢 & 特色
? 高速線掃，40kHz
? 高分辨率
? CameraLink或者 GigE接口
注：產品信息若有變更恕不另行通知 / 比利時Xenics公司中國代理商---元奧儀器
產品參數：
相機性能參數機械特性 | LYNX 512 SQ CL LYNX 512 SQ GigE | LYNX 1024 SQ CL LYNX 1024 SQ GigE | LYNX 2048 SQ CL LYNX 2048 SQ GigE |
相機尺寸 不含鏡頭 （ 寬 x 高 x 長 ） [mm] | 49 x 49 x 53 [CL] ; 49 x 49 x 71 [GigE] |
重量/g 不包含鏡頭 | 153 [ CL ] ; 208 [ GigE ] |
光學接口 | C-MOUNT or M42 [ M42 轉 F-MOUNT 接口可選] |
GigE 接口 | RJ45 |
Cameralink 接口 | 標準 SDR |
電源接口 | Hirose HR10-7R-SA [73] |
觸發接口 | SMA |
環境 & 電源規格 |
工作溫度 [°C] | From -40 to +70 |
儲存溫度 [°C] | From -50 to +85 |
電源功耗 [W] | 2.6W [CL] ; 4.6 [ GigE ] |
電源電壓 | DC 12 V |
抗沖擊 | IEC60068-2-27 Ed4.0; half-sine; terminal saw tooth; 50 g [11 ms] |
振動 | 隨 機 ： IEC60068-2-64 Ed2.0; 4.3 g [20 - 1000 Hz]. Sine: IEC60068-2-6 Ed7.0; 1 g [10 - 2000 Hz] |
IP 防護等級 | IP40 |
[安全規定 | CE ; RoHS |
電子光學特性： |
分辨率 [pixels] | 512 | 1024 | 2048 |
像素大小 [µm] | 25 | 12.5 | 12.5 |
像素高度[µm] | 25 | 12.5 | 12.5 |
芯片類型 | InGaAs Photodiode Array with CTIA ROIC |
積分類型 | Snapshot-全局快門 |
光譜范圍[nm] | 900-1700 |
量子效率[QE]值 | 80% （典型峰值） |
滿井電子 [ e- ] | 450k-32M | 450k-32M | 450k-10M |
讀出模式 | ITR and IWR |
像素可操作性 | >99.6% | >99% | >98% |
幀率[kHz] | 40 | 40 | 10 |
Analog-to-Digital (ADC) [bits] | 14 |
命令與控制 | Cameralink or GigE Vision |
數據輸出格式 | Cameralink or GigE Vision [16bit ] |
觸發 | in or out via SMA (configurable). For CL – additional trigger in available via CC1 |
產品型號選擇 |
| XEN-000633 [ CL ] XEN-000309 [ GigE ] | XEN-000313 [ CL ] XEN-000310 [ GigE ] | XEN-000314 [ CL ] XEN-000311 [ GigE ] |
注：產品信息若有變更恕不另行通知 / 比利時Xenics公司中國代理商---元奧儀器
應用領域 :
食品檢測；線掃描成像；熱物體的非接觸熱成像；無損測試；半導體檢測；光譜學
