Minitest1100涂層測(cè)厚儀

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更新時(shí)間：2025-02-20 10:38:51瀏覽次數(shù)：41次

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  無損檢測(cè)設(shè)備

涂層測(cè)厚儀

超聲波涂層測(cè)厚儀

壁厚測(cè)厚儀

超聲波探傷儀

超聲波測(cè)厚儀

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合測(cè)實(shí)業(yè)上海有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品描述Minitest1100涂層測(cè)厚儀可根據(jù)用戶需求自由選配F/N/FN型探頭

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品描述

Minitest1100涂層測(cè)厚儀可根據(jù)用戶需求自由選配F/N/FN型探頭，Minitest1100涂層測(cè)厚儀為高精度測(cè)厚儀，zui大測(cè)量范圍為0-50mm,精度zui高±(1%±0.5μm)，合測(cè)實(shí)業(yè)為Minitest1100涂層測(cè)厚儀代理商，歡迎致電了解產(chǎn)品的更多信息

Minitest1100涂層測(cè)厚儀配不同探頭可測(cè)量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）：

? 鋼鐵基體上的非磁性覆層
? 有色金屬上的絕緣覆層
? 絕緣基體上的有色金屬覆層

技術(shù)參數(shù)

Minitest1100涂層測(cè)厚儀-技術(shù)參數(shù)：

Minitest1100涂層測(cè)厚儀-探頭參數(shù)：

探頭		量程	低端分辨率	誤差	zui小曲率半徑 (凸/凹)	zui小測(cè)量區(qū)域直徑	zui小基體厚度	探頭尺寸
磁感應(yīng) 法	F05	0-500μm	0.1μm	±(1%±0.7μm)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
	F1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F2/90	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F10	0-10mm	5μm	±(1%±10μm)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
	F20	0-20mm	10μm	±(1%±10μm)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
	F50	0-50mm	10μm	±(3%±50μm)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
兩用	FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50μm	φ15x62mm
	FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面	30mm	F0.5mm/N50μm	φ21x89mm
	FN2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50μm	φ15x62mm
電渦流法	N02	0-200μm	0.1μm	±(1%±0.5μm)	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
	N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%±1μm)	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
	N1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
	N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
	N2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	50μm	φ15x62mm
	N2/90	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
	N10	0-10mm	10μm	±(1%±25μm)	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
	N20	0-20mm	10μm	±(1%±50μm)	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
	N100	0-100mm	100μm	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
	CN02	10-200μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面	7mm	無限制	φ17x80mm

　　F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

關(guān)鍵詞：測(cè)厚儀

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