產品描述
美國GE SEB1/SEB2/SEB4雙晶直探頭適用于測量一些粗晶材料和薄件，探頭直徑21/2，7*8,6*20mm,頻率1，2,4MHZ、F=20,15,12mm，訂貨號為57466,57467,57469.
美國GE SEB1/SEB2/SEB4雙晶直探頭-應用：
-
剩余壁厚、銹蝕、腐蝕
-
近表缺陷檢測
-
小零件-螺釘、螺栓、銷釘
-
覆層和堆焊層
-
粘接檢測
-
火車車輪
-
軸、桿、方坯芯部缺陷
-
粗晶材料
美國GE SEB1/SEB2/SEB4雙晶直探頭-性能特征：
-
近表分辨率
-
與曲面和粗糙面耦合好
-
散射噪聲較小
-
對曲面工件也能沿其輪廓進行檢測
-
歐款有側裝LEMO OO連接口，SEB..KF型MICRODOT側裝
-
美款有固定BNC電纜
技術參數
美國GE SEB1/SEB2/SEB4雙晶直探頭-技術參數：
| 類型 [訂購號碼] | a×b [mm] | f [MHz] | AB* [mm] | N [mm]
| EB [mm] | 聲束形狀 編號 | 備注
| 草圖 |
| 特性帶寬：65% | ||||||||
| DA0.8G | 20? | 0.8 | 3-400 | 35 | 8 | 0.8-20/2 | 用于高衰減 | 類型15 |
| 特性帶寬：40% | ||||||||
| SEB1 SEB2 SEB2-0° SEB4 SEB4-0° | 21? 7×18 7×18 6×20 6×20 | 1 2 2 4 4 | 3-400 2-1000 4.5-2000 1.5-2000 4-4000 | 20 15 30 12 25 | 10 5 5 2.5 2.5 | 1-21/2 2-7×18 2-7×18-0 4-6×20 4-6×20-0 |
0°意味著 兩個單元的 公共角度是 0°
帶寬99% |
類型15
類型16
類型17 |
