Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight  CAP

——緊湊型高性能剖面儀和AFM

Bruker的InSight CAP自動原子力輪廓儀是專門為半導體制造商和供應商設計的CMP和蝕刻計量組合平臺。靈活的配置支持從100毫米到300毫米的晶圓尺寸，可實現廣泛終端應用的精確測量。從高生產率的實驗室到全自動化的工廠，InSight CAP profiler可以優化配置，以獲得具成本效益的計量解決方案。

·< 0.5 nm長期動態再現性

用于關鍵工藝決策的直接、穩定的在線計量

·亞納米
CMP自動計量的靈敏度，專用碟形和腐蝕計量包，用于過程控制和開發

·<20nm
仿形平面度大于26mm
針對關鍵EUV光刻技術開發和過程控制的高精度CMP后平面度計量

Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight  CAP

在線計量結果以分鐘為單位，適用于蝕刻和CMP的技術開發和過程控制

在高級技術節點，多模式光刻技術對CMP提出了納米級的過程控制要求，以滿足聚焦深度需求。InSight CAP圍繞新一代AFM掃描儀構建，在65μm X/Y掃描范圍內提供改進的平坦度，小于10納米。該系統的NanoScope®V 64位AFM控制器提供了5倍更快的嚙合性能和5倍更快的調整速度，以提高生產效率，所有這些都提高了可靠性。其DT自適應掃描模式也有助于加快掃描速度和改進計量。InSight CAP高分辨率剖面儀結合了多項*功能，可在宏觀凹陷和侵蝕中實現埃級精度測量。

靈活的配置支持從100毫米到300毫米的晶圓尺寸，可實現廣泛終端應用的精確測量。從高生產率的實驗室到全自動化的工廠，InSight CAP profiler可以優化配置，以獲得具成本效益的計量解決方案。